Bragg-Brentano 聚焦和Johansson 或抛面镜单色器自由切换;■ 高分辨的反射技术,让检测厚度精确至1-500nm,几何平行光束采用了小反射角和薄膜附件,从而可以进行薄膜或层次分析;■ 将抛面镜单色器与晶体开槽技术有机结合,并安装在入射光束上,可以获得高强度、低散射适合高分辨率测量的平行单色光;■ 强大,简便的操作软件实测检测工作更加简单,软件同时具有许多先进的功能,可以帮助用户对复杂的谱图进行分析...
AR 光芯片检测- 光芯片、光电子芯片检测方案 -宏观角分辨光谱设备 R1:自动化运行,操作便捷,一套系统实现偏振、分子取向、光栅尺寸等多种测试功能,实现不同角度入射和接收光谱检测。...
该报告内容深入阐述了测试系统架构、材料模型构建、光谱拟合等关键过程,以及角分辨荧光光谱和薄膜厚度测量等功能扩展。黄瀚丹女士总结介绍:“此型号产品支持 0~360° 全角度测量,波段最宽可扩展至 220~2500nm。可应用于 TADF 材料、磷光材料、荧光上转换材料光致/电致荧光光谱各向异性研究,为 OLED 器件、OPV 器件和相关超构材料提供表面光场调控表征。...
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