ASTM E986-97
扫描电子显微镜光束尺寸表征的标准实践

Standard Practice for Scanning Electron Microscope Beam Size Characterization


ASTM E986-97 中,可能用到以下仪器

 

 S8000G型镓离子聚焦离子束双束扫描电镜

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聚焦离子束(Xe)扫描电镜 FERA

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赛默飞(原FEI)Helios 5 DualBeam 双束扫描电镜

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Helios 5 EXL DualBeam双束扫描电镜

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赛默飞电子显微镜(原FEI)

 

JIB-4700F聚焦离子束双束(FIB)

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日本电子株式会社(JEOL)

 

Scios DualBeam 电子显微镜

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赛默飞电子显微镜(原FEI)

 

蔡司多束扫描电子显微镜 MultiSEM 505

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蔡司双束电镜 Crossbeam系列

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卡尔蔡司(上海)管理有限公司

 

扫描电镜 Phenom ProPhenom 可检测光子晶体光纤

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复纳科学仪器(上海)有限公司

 

台式扫描电子显微镜标准版PurePhenom Phenom pure 标准

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复纳科学仪器(上海)有限公司

 

台式扫描电子显微镜标准版Pure Phenom purePhenom 标准

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复纳科学仪器(上海)有限公司

 

扫描电镜EM科特CUBE-Ⅱ 适用于表征微区分析

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铂瑞达(北京)科技有限公司

 

桌面扫描电镜EM科特CUBE-Ⅱ 适用于表征分析

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CUBE-Ⅱ Smart扫描电镜EM科特 适用于表征分析

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基于改装SEM的扫描电子束曝光系统

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标准号
ASTM E986-97
发布
1997年
发布单位
美国材料与试验协会
替代标准
ASTM E986-04
当前最新
ASTM E986-04(2024)
 
 
1.1 这种做法提供了一种可重复的方法来表征扫描电子显微镜(SEM)的性能。该性能是 SEM-操作员-材料组合的衡量标准,并通过测量多种材料的有效“表观边缘锐度”进行量化,建议使用其中两种材料。这种做法需要 SEM 能够对建议的材料执行线扫描跟踪(例如,偏转波形生成)。这种做法有效的 SEM 放大倍数范围为 1000 至 200 000 X。 1.2 本标准...

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ASTM E986-97 中可能用到的仪器设备


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