ISO 16371-2:2017/Amd 1:2018
ISO 16371-2:2017/Amd 1:2018

ISO 16371-2:2017/Amd 1:2018 发布历史

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ISO 16371-2:2017/Amd 1:2018 发布之时，引用了标准

• EN 12679 无损检验.工业射线摄影源尺寸的测定.射线摄影法*， 2018-10-01 更新
• ISO 16371-1:2011 无损检测.存储式磷成像板工业计算机射线照相.第1部分:系统分类*， 2011-10-01 更新
• ISO 19232-1 无损检测.辐射摄影的图像质量.第1部分:利用线型图像质量指示器的图像质量值测定*， 2013-06-15 更新
• ISO 19232-2 无损检验.辐射摄影的图像质量.第2部分:利用阶梯/孔型图像质量指示器的图像质量值测定*， 2013-06-15 更新
• ISO 19232-3:2013 无损检测.辐射摄影的图像质量.第3部分:图像质量级*， 2013-06-15 更新
• ISO 19232-5 无损检验.辐射摄影的图像质量.第5部分:图像质量显示器(双线型).图像不清晰值的测定*， 2018-07-31 更新
• ISO 5579 无损检测.金属材料用X和γ射线照相检验.基本规则*， 2013-12-01 更新
• ISO 5580 无损检测.工业射线照相底片观光灯.最低要求*， 1985-03-01 更新
• ISO 9712 无损检测.无损检测人员的资格和认证*， 2021-12-21 更新

* 在 ISO 16371-2:2017/Amd 1:2018 发布之后有更新，请注意新发布标准的变化。

ISO 16371-2:2017/Amd 1:2018的历代版本如下：

• 1970年 ISO 16371-2:2017/Amd 1:2018 ISO 16371-2:2017/Amd 1:2018
• 2017年 ISO 16371-2:2017 无损检验.用存储荧光成像板的工业计算辐射摄影术.第2部分:用X射线和γ射线检验金属材料的一般原则

本文件规定了计算机放射线照相的基本技术，旨在经济地获得令人满意且可重复的结果。 这些技术基于该主题的基本理论和测试测量。 本文件规定了使用存储荧光成像板 (IP) 进行缺陷检测的工业计算 X 射线和伽马射线照相的一般规则。 它基于 ISO 5579 中规定的基于胶片的金属材料射线照相检查的一般原则。 辐射源、探测器和相应几何形状的基本设置旨在按照 ISO 5579 和相应的产品标准，例如焊接 ISO 17636 和铸造 EN 12681。 本文件没有规定缺陷的验收标准。 计算机放射线照相（CR）系统提供只能在计算机上查看和评估的数字灰度值图像。 本实践描述了探测器选择和射线照相实践的推荐程序。 计算机、软件、显示器、打印机和查看条件的选择很重要，但不是本文档的重点。 它指定的程序提供了允许曝光和采集数字射线照片的最低要求和实践，其缺陷检测灵敏度与胶片射线照相相当，并且符合 ISO 5579 中的规定。 某些应用标准，例如 EN 16407，可能需要不同的且不太严格的标准。 练习条件。

标准号

ISO 16371-2:2017/Amd 1:2018

发布

1970年

发布单位

/

当前最新

ISO 16371-2:2017/Amd 1:2018

 

 

引用标准

EN 12543 (all parts) EN 12679 ISO 16371-1:2011 ISO 19232-1 ISO 19232-2 ISO 19232-3:2013 ISO 19232-5 ISO 5579 ISO 5580 ISO 9712

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