DIFFRAC.COMMANDER界面展示粗糖样品的Phi-1D扫描。图像的水平轴对应于Phi旋转，而垂直轴显示探测器快照。数据采集使用D6 PHASER 600W, Co靶，K-beta滤波器，2.5°Soller准直器，可变发散狭缝(恒定开口，0.25 mm)，无空气散射屏。...
奖项主体：优尼康科技有限公司 奖项名称：薄膜厚度与表面形貌测量设备行业领导者优尼康 薄膜厚度与表面形貌测量设备行业领导者 获奖理由： 优尼康科技有限公司自2012年成立，一直专注于薄膜厚度与表面轮廓测量领域，为半导体、面板、LED、消费电子、生物医疗等高科技企业和高校及研发中心提供精密测量设备与解决方案。...
新一代Aeris，还可配置掠入射薄膜分析功能模块。圆晶分析仪点击图片下载产品手册2830ZT 2830ZT波长色散X射线荧光圆晶分析仪提供了用于测量薄膜厚度和成分的功能。针对半导体和数据存储行业而设计，专门配备了具有突破性的ZETA技术X射线管，和多层膜分析软件FP Multi，FALMO-2G可集成到任意实验室或晶圆厂，该仪器可为多种晶片（厚达300mm）测定层结构、厚度、掺杂都和表面均匀性。...
入射的荧光 X射线在分析晶体上按布喇格定律衍射，衍射线和晶体的散射线一起，通过次级准直器（索勒狭缝）进入探测器，在探测器中进行光电转换，所产生的电脉冲经过放大器和脉冲幅度分析器后，即可供测量和进行数据处理用。对于不同波长的标识X射线，通过测角器以1:2的速度转动分析晶体和探测器，即可在不同的布喇格角位置上测得不同波长的X射线而作元素的定性分析。 ...
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