KS C IEC 61967-4-2019
集成电路电磁发射的测量 150 kHz至1 GHz 第4部分：传导发射的测量 1 W/150 W直接耦合法

Integrated circuits－Measurements of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz－Part 4：Measurement of conducted emissions－1 W/150 W direct coupling method

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KS C IEC 61967-4-2019 发布历史

KS C IEC 61967-4-2019由韩国科技标准局 KR-KATS 发布于 20191231，并于 20191231 实施。

KS C IEC 61967-4-2019在国际标准分类中归属于: 31.200 集成电路、微电子学。

KS C IEC 61967-4-2019 集成电路电磁发射的测量 150 kHz至1 GHz 第4部分：传导发射的测量 1 W/150 W直接耦合法的最新版本是哪一版？

最新版本是 KS C IEC 61967-4-2019 。

KS C IEC 61967-4-2019的历代版本如下：

2019年 KS C IEC 61967-4-2019 集成电路电磁发射的测量 150 kHz至1 GHz 第4部分：传导发射的测量 1 W/150 W直接耦合法
2004年 KS C IEC 61967-4:2004 集成电路.150KHz.1KHz电磁释放量的测量.第4部分:传导释放量的测量.1Ω.150Ω直接耦合法

标准号: KS C IEC 61967-4-2019
发布: 2019年
发布单位: 韩国科技标准局
当前最新: KS C IEC 61967-4-2019

KS C IEC 61967-4-2019相似标准

DS/EN 61967-4:2002 集成电路电磁发射的测量，150 kHz 至 1 GHz 第4部分：传导发射的测量 1 ohm/150 ohm 直接耦合法 CEI EN 61967-4:2009 集成电路电磁发射测量 150 kHz 至 1 GHz 第4部分：传导发射测量 1 欧姆/150 欧姆直接耦合法 CEI EN 61967-4/EC:2009 集成电路电磁发射测量 150 kHz 至 1 GHz 第4部分：传导发射测量 1 欧姆/150 欧姆直接耦合法 BS EN 61967-4:2002+A1:2006 集成电路电磁发射测量 150 kHz 至 1 GHz 传导发射测量 1欧姆/150欧姆直接耦合方式 LST EN 61967-4-2003 集成电路电磁辐射测量，150 kHz 至 1 GHz 第4部分：传导发射的测量 1 Ohm/150 Ohm 直接耦合法（IEC 61967-4:2002）

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