IEC 60749-3:2017
半导体器件 - 机械和气候测试方法 - 第3部分:外部视觉检查
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual examination
IEC 60749-3:2017 中，可能用到以下仪器设备
- 标准号
- IEC 60749-3:2017
- 发布
- 2017年
- 发布单位
- 国际电工委员会
- 当前最新
- IEC 60749-3:2017
- IEC 60749 这一部分的目的是验证半导体器件的材料@设计@结构@标记@和工艺是否符合适用的采购文件。外部目视检查是一种非破坏性测试，适用于所有包装类型。该测试对于资格@过程监控@或批次验收非常有用。
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