KS C IEC 60749-1-2021
半导体器件机械和气候测试方法第1部分：总则

Semiconductor devices－Mechanical and climatic test methods－Part 1：General

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标准号: KS C IEC 60749-1-2021
发布: 2021年
发布单位: 韩国科技标准局
当前最新: KS C IEC 60749-1-2021

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