DB32/T 3459-2018
石墨烯薄膜微区覆盖度测试 扫描电子显微镜法
Scanning Electron Microscopy for Measuring the Micro-area Coverage of Graphene Films
DB32/T 3459-2018 中，可能用到以下仪器设备
DB32/T 3459-2018相似标准
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④ 干燥：可用空气干燥法、临界点干燥、冷冻干燥等方法。§3. 石墨烯试样石墨烯是近年特别火热的样品，不过利用扫描电镜进行石墨烯的观察需要一定的技巧，否则难以有很好的说服力。理论上石墨烯厚度非常小，在扫描电镜下难以有很好的衬度。而那些铺展的很平整，却有着很好的明暗衬度的试样，本人觉得只能算是石墨薄片而不能算石墨烯。...
测试干货｜石墨烯的表征方式你知道多少？
10、总结扫描电子显微镜、透射电子显微镜和原子力显微镜均能够对石墨烯样品的表面形貌进行观察分析，同时扫描电子显微镜能够对试样成分进行分析，透射电子显微镜则能够对样品的晶格结构进行观察，原子力显微镜还可以测试试样厚度。...
交替掺杂石墨烯PN结的化学电势差优化
图1：(a) 上：利用化学气相沉积法使交替氮硼掺杂石墨烯薄膜生长，图中展示了形核以及连续外延生长的步骤。下：化学气相沉积法得到的交替BNG PN结的化学电势差被提高，图中可以明显看出，生长时高温往往导致石墨烯较低的掺杂水平。(b) 在BNG结构中，氮掺杂石墨烯和硼掺杂石墨烯的典型原子反射光谱点分析结果。插图为在铜箔上交替BNG薄膜的扫描电镜图像。(c) 表明了元素分布在PN结中呈现分离的趋势。...
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1.显微镜法 1）用扫描电子显微镜（SEM）扫描隧道显微镜（STM）透射电子显微镜（TEM）来表征生长域和表面形态。 2）用原子力显微镜（AFM）来表征表面形态、厚度、层的均匀性、畴生长。 ...