ASTM F1263-11(2019)
电子零件辐射试验中显性数据分析的标准指南

Standard Guide for Analysis of Overtest Data in Radiation Testing of Electronic Parts

ASTM F1263-11(2019) 发布历史

ASTM F1263-11(2019)由美国材料与试验协会 US-ASTM 发布于 2019-12-01。

ASTM F1263-11(2019)在国际标准分类中归属于: 31.020 电子元器件综合。

ASTM F1263-11(2019)的历代版本如下：

• 2019年 ASTM F1263-11(2019) 电子零件辐射试验中显性数据分析的标准指南
• 2011年 ASTM F1263-11 电子元件辐射试验中超量试验数据分析的标准指南
• 1999年 ASTM F1263-99(2005) 电子元件辐射试验中超限试验数据的分析
• 1999年 ASTM F1263-99 电子元件辐射试验中超限试验数据的分析

1.1 本指南涵盖了过度测试的使用，以减少为满足给定质量验收标准而必须进行测试的零件数量。过度测试是在高于其规格应力的应力水平下测试零件的样本数量，以减少必要的数据采集量。本指南讨论了何时以及如何应用过度测试来形成对遭受辐射应力的电子零件的生存概率估计。尽管精确的知识可能会被对该分布的过度保守估计所取代，但对控制零件失效应力的概率分布的一些了解是必要的。

1.2 本国际标准是根据世界贸易组织贸易技术壁垒（TBT）委员会发布的《关于制定国际标准、指南和建议的原则的决定》中确立的国际公认的标准化原则制定的。

标准号

ASTM F1263-11(2019)

发布

2019年

发布单位

美国材料与试验协会

当前最新

ASTM F1263-11(2019)

 

 

引用标准

MIL-PRF-19500 MIL-PRF-38535