KS C 2150-2008(2018)
高频（500mhz∼10ghz）介质薄膜介电常数和介电损耗的测量方法

Measuring method of dielectric constant and dielectric loss of dielectric thin film at the high frequency ranges(500 MHz∼10 GHz)

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标准号

KS C 2150-2008(2018)

发布日期

2008年11月28日

实施日期

废止日期

无

国际标准分类号

31.140

发布单位

KR-KS