ASTM E1508-12a(2019)
用能量分散能谱学作定量分析的标准指南
Standard guide for quantitative analysis using energy dispersive spectroscopy
ASTM E1508-12a(2019) 发布历史
ASTM E1508-12a(2019)由美国材料与试验协会 US-ASTM 发布于 2019，并于 0000-00-00 实施。
。
ASTM E1508-12a(2019) 发布之时，引用了标准
ASTM E1508-12a(2019)的历代版本如下：
- 2019年 ASTM E1508-12a(2019) 用能量分散能谱学作定量分析的标准指南
- 2012年 ASTM E1508-12a 用能量分散能谱学作定量分析的标准指南
- 2012年 ASTM E1508-12 用能量分散能谱学作定量分析的标准指南
- 1998年 ASTM E1508-98(2008) 用能量分散能谱学作定量分析的标准指南
- 1998年 ASTM E1508-98(2003) 用能量分散能谱学作定量分析的标准指南
- 1998年 ASTM E1508-98 用能量分散能谱学作定量分析的标准指南
1.1 本指南旨在帮助那些使用能量色散光谱 (EDS) 通过扫描电子显微镜 (SEM) 或电子探针显微分析仪 (EPMA) 对材料进行定量分析的人员。它并不是要取代正式的教学课程，而是为该技术的功能和局限性及其使用提供指南。有关该主题的更详细处理，请参阅 Goldstein 等人。 (1) 本指南不包括使用透射电子显微镜 (TEM) 的 EDS。
1.2 单位——以 SI 单位表示的值被视为标准值。本标准不包含其他计量单位。
1.3 本标准并不旨在解决与其使用相关的所有安全问题（如果有）。本标准的使用者有责任建立适当的安全、健康和环境实践，并在使用前确定监管限制的适用性。
1.4 本国际标准是根据世界贸易组织贸易技术壁垒（TBT）委员会发布的《关于制定国际标准、指南和建议的原则的决定》中确立的国际公认的标准化原则制定的。
- 标准号
- ASTM E1508-12a(2019)
- 发布
- 2019年
- 发布单位
- 美国材料与试验协会
- 当前最新
- ASTM E1508-12a(2019)
- 引用标准
- ASTM E3 ASTM E673 ASTM E691 ASTM E7
ASTM E1508-12a(2019)相似标准
推荐
【干货】电子探针显微分析的原理及应用
3、面扫描分析电子束在样品表面作光栅扫描时，把X射线谱仪(波谱仪或能谱仪)固定在接收某一元素特征X射线信号的位置上，此时在荧光屏上便对得到该元素的面分布图像。图中亮区表示这种元素的含量较高。4、（定点）定量分析能谱仪在稳定的电子束照射下得到的X射线谱，在扣除背景计数率后，各元素的同类特征谱线的强度值与它们的浓度相对应。...
【材料课堂】一文了解电子探针显微分析的原理及应用
当晶体位于角时，晶体与光源之间的距离l总是等于2Rsinθ，将代布拉格方程(2dsinθ=nθ)得4、波谱仪的特点波长分辨率是很高的；x射线利用率很低；波谱仪不适于束流低、x射线弱的情况下使用。二、能谱分散仪（能谱仪，EDS ）能量色散谱仪简称能谱仪，是利用特征X射线能量不同来展谱而进行成分分析的仪器。 ...
SEM或EPMA？为什么要选电子探针？
EPMA使用的X射线谱仪有波谱仪和能谱仪两类。 电子探针结构示意图 1、能谱仪 能谱仪全称为能量分散谱仪(EDS)。目前最常用的是Si(Li)X射线能谱仪，其关键部件是Si(Li)检测器，即锂漂移硅固态检测器，它实际上是一个以Li为施主杂质的n-i-p型二极管。 Si(Li)检测器探头结构示意图以Si(Li)检测器为探头的能谱仪实际上是一整套复杂的电子学装置。 ...
【干货】电子探针分析的难点解析
X射线谱仪是电子探针的信号检测系统，分为：能量分散谱仪（EDS），简称能谱仪，用来测定X射线特征能量。波长分散谱仪（WDS），简称波谱仪，用来测定特征X射线波长。EDS常用作扫描电镜或透射电镜的微区成分分析。利用发射出来的特征X射线能量不同而进行的元素分析，称为能量色散法。X射线能谱仪的主要构成单元是Si（Li）半导体检测器，即锂飘移硅半导体检测器和多道脉冲分析器。...