IEC 60749-26:2018由国际电工委员会 IX-IEC 发布于 2018-01-15,并于 2018-01-18 实施。
IEC 60749-26:2018在国际标准分类中归属于: 31.080.01 半导体器分立件综合。
IEC 60749-26:2018 半导体器件 - 机械和气候试验方法 - 第26部分:静电放电(ESD)灵敏度测试 - 人体模型(HBM)的最新版本是哪一版?
最新版本是 IEC 60749-26:2018 。
IEC 60749 的这一部分建立了测试、评估和分类组件和微电路的程序,根据其对暴露于定义的人体模型 (HBM) 静电放电 (ESD) 造成的损坏或退化的敏感性(敏感性)。本文档的目的是建立一种测试方法,该方法将复制 HBM 故障并提供可靠的@可重复的 HBM ESD 测试结果,无论组件类型如何。可重复的数据将允许对 HBM ESD 敏感度级别进行准确分类和比较。半导体器件的 ESD 测试选自本测试方法@机器模型 (MM) 测试方法(参见 IEC 60749-27)或 IEC 60749 系列中的其他 ESD 测试方法。除非另有说明,均选择该测试方法。
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