点击上方蓝字关注我们光学薄膜是现代光学技术中不可缺少的技术基础,随着薄膜技术和光电器件的广泛发展,对光学及电子元件表面光学薄膜的性能要求也不断提高,与之相对应的加工和检测技术也不断更新,精密测量对光学薄膜各种参数提出了更高的要求。光学薄膜具有改变介质的光学特性(如增透膜,高反膜等),改进器件表面性能,扩展材料新的功能特性等优点。...
产品技术特点 自动 采用7105微处理芯片,自动完成SDI的测量和计算,测试过程实现无人化 全过程自动温度检测、温差计算(符合ASTM标准要求)每个测量过程都在第5、10和15分钟时自动计算和显示SDI值 精确 光电液位传感、标准容积的采样方式(符合ASTM标准要求) 国际知名品牌的元器件,确保测量精度 专利设计的机构,自动排除管线和膜盒中的空气,减少误差...
◇多参数同时显示:余氯值、次氯酸值、PH值、温度、输出电流等同时显示,直观易读,并有量程超限提示。◇有恢复出厂设置功能,斜率修正功能。◇手动/自动PH补偿功能和温度补偿功能。◇通讯功能(选配):具有RS-485通讯接口(MODBUS协议部分兼容),4~20 mA电流输出对应的余氯值可以任意设定。◇光电隔离4-20mA电流输出。◇迟滞量任意设定功能,避免开关继电器频繁动作,有设置开关量关和闭功能。...
GWZK-03A高温精密压电阻抗分析测量系统 材料分析夹具及配备分析软件关键词:阻抗分析,压电陶瓷,GWZK-03A高温精密压电阻抗分析测量系统是国内符合LXI标准的新一代高温压电阻抗测试仪器,其0.1%的基本精度、20Hz~5MHz的频率范围可以满足元件与材料绝大部分低压参数的测量要求,可广泛应用于诸如传声器、谐振器、电感器、陶瓷电容器、液晶显示器、变容二极管、变压器等进行诸多电气性能的分析及低ESR...
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