ASTM D5796-99
使用镗孔装置通过破坏性方法测量薄膜线圈涂覆系统的干膜厚度的标准测试方法

Standard Test Method for Measurement of Dry Film Thickness of Thin Film Coil-Coated Systems by Destructive Means Using a Boring Device

被代替

ASTM D5796-99 发布历史

ASTM D5796-99由美国材料与试验协会 US-ASTM 发布于 1999-12-10。

ASTM D5796-99在国际标准分类中归属于: 17.040.20 表面特征。

ASTM D5796-99的历代版本如下：

• 2020年 ASTM D5796-20 使用镗孔装置通过破坏性方法测量薄膜线圈涂覆系统的干膜厚度的标准测试方法
• 2010年 ASTM D5796-10(2015) 使用镗孔装置通过破坏性方法测量薄膜线圈涂覆系统的干膜厚度的标准测试方法
• 2010年 ASTM D5796-10 用钻孔装置进行破坏法测量薄膜涂覆系统的干膜厚度的标准试验方法
• 2003年 ASTM D5796-03(2010) 用钻孔装置破坏性测量薄膜盘绕覆层系统的干膜厚度的标准试验方法
• 2003年 ASTM D5796-03 用钻孔装置破坏性测量薄膜盘绕覆层系统的干膜厚度的标准试验方法
• 1999年 ASTM D5796-99 使用镗孔装置通过破坏性方法测量薄膜线圈涂覆系统的干膜厚度的标准测试方法

1.1 本试验方法包括通过显微镜观察涂膜中精密切割的浅角凹坑来测量涂膜的干膜厚度（DFT）。

1.2 基材可以是任何刚性的金属材料，例如冷轧钢、热镀锌钢、铝等。基材应是平面的。注 - 基材表面轮廓的变化可能会导致有机涂层厚度读数不具代表性。这种情况可能存在于热浸镀钢板等基材上。这对于所有用于确定有机涂层干膜厚度的“精密切割”方法都是如此。

1.3 厚度测量范围为0至3.5密耳（0至88微米）。

1.4 测量可以在卷材涂层板、某些成型产品或测试板上进行。

1.5 以英寸-磅为单位的数值应视为标准值。括号中给出的值仅供参考。

1.6 本标准并不旨在解决与其使用相关的所有安全问题（如果有）。本标准的使用者有责任在使用前建立适当的安全和健康实践并确定监管限制的适用性。

标准号

ASTM D5796-99

发布

1999年

发布单位

美国材料与试验协会

替代标准

ASTM D5796-03

当前最新

ASTM D5796-20

 

 

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