T/CESA 1119—2020
人工智能芯片 面向云侧的深度学习芯片测试指标与测试方法
AI chips-Test index and test method of deep learning chips for cloud side
T/CESA 1119—2020 发布历史
本文件规定了对云侧深度学习芯片进行功能、性能测试的测试指标、测试方法和要求，适用于云侧深度学习芯片。本文件只规定云侧深度学习芯片基准测试的一般原则。 本文件适用于第三方机构对云侧深度学习芯片进行性能测试与评估,也适用于云侧深度学习芯片产品的采购、设计。 云侧芯片并不必须具备训练能力。
T/CESA 1119—2020由中国团体标准 CN-TUANTI 发布于 2020-10-30，并于 2020-11-06 实施。
T/CESA 1119—2020在国际标准分类中归属于: 31.200 集成电路、微电子学。
