GB/T 42676-2023
半导体单晶晶体质量的测试 X射线衍射法

GBT42676-2023, GB42676-2023


GB/T 42676-2023 发布历史

GB/T 42676-2023由国家质检总局 CN-GB 发布于 2023-08-06,并于 2024-03-01 实施。

GB/T 42676-2023 在中国标准分类中归属于: H21 金属物理性能试验方法,在国际标准分类中归属于: 77.040 金属材料试验。

GB/T 42676-2023的历代版本如下:

  • 2023年 GB/T 42676-2023 半导体单晶晶体质量的测试 X射线衍射法

 

标准号
GB/T 42676-2023
别名
GBT42676-2023
GB42676-2023
发布
2023年
发布单位
国家质检总局
当前最新
GB/T 42676-2023
 
 

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