BS ISO 13084:2018由英国标准学会 GB-BSI 发布于 2018-11-30,并于 2018-11-30 实施。
BS ISO 13084:2018在国际标准分类中归属于: 71.040.40 化学分析。
BS ISO 13084:2018 表面化学分析 二次离子质谱分析 飞行时间二次离子质谱仪的质量标度校准的最新版本是哪一版?
最新版本是 BS ISO 13084:2018 。
这个标准是关于什么的?本文件规定了一种优化用于一般分析目的的飞行时间二次离子质谱 (SIMS) 仪器质量校准精度的方法。它仅适用于飞行时间仪器,但不限于任何特定的仪器设计。为可以使用此程序优化的一些仪器参数以及适合校准质量标度以获得最佳质量精度的通用峰类型提供了指导
二次离子质谱 (Secondary Ion Mass Spectrometry,SIMS) 是一种材料表面化学分析技术,它依赖于收集和分离从材料表面产生的二次离子, 根据检测到的离子的质荷比 (m/z)而给出材料表面成分信息。飞行时间二次离子质谱(ToF-SIMS)是质谱分析的其中一种方法或者是其中一种类型的质谱分析仪。固体表面激发的二次离子是双束聚焦离子束轰击样品所产生的信号之一。...
飞行时间二次离子质谱(ToF-SIMS)是质谱分析的其中一种方法或者是其中一种类型的质谱分析仪。固体表面激发的二次离子是双束聚焦离子束轰击样品所产生的信号之一。基于双束扫描电镜聚焦离子束(DualBeam SEM-FIB)的二次离子质谱和专用的二次离子质谱仪器的主要区别之一是分析离子束(primary ion beam or analytical beam)的离子类型和离子源的种类。...
随着二次离子质谱仪的诞生、发展和成熟,出现了由不同分析器与二次离子源组成的四极杆二次离子质谱仪(Q-SIMS)、双聚焦二次离子质谱仪(DF-SIMS)和飞行时间二次离子质谱仪(tOF-SMS)。它们以其高质量分辨率、高检测灵敏度、低检测极限,为无机质谱增加了杂质深度分析、三维离子图像处理及微区元素和同位素测量能力。...
静态二次离子质谱法中相对强度范围的重复性和稳定性 英国标准学会,关于质谱中相对强度的标准 BS ISO 17862-2013 表面化学分析.次级离子质谱法.单离子计数飞行时间质量分析器强度标的线性 BS ISO 17862-2013 表面化学分析.次级离子质谱法.单离子计数飞行时间质量分析器强度标的线性 BS ISO 23830-2008 表面化学分析.次级离子质谱法.静态次级离子质谱法中相对强度数值范围的重复性和稳定性...
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