GB/T 42838-2023
半导体集成电路霍尔电路测试方法

Semiconductor Integrated Circuit Hall Circuit Test Method

GBT42838-2023, GB42838-2023

半导体集成电路霍尔电路测试方法, 您可以免费下载预览页

说明：

此图仅显示与当前标准最近的5级引用；
鼠标放置在图上可以看到标题编号；
此图可以通过鼠标滚轮放大或者缩小；
表示标准的节点，可以拖动；
绿色表示标准：GB/T 42838-2023 ，绿色、红色表示本平台存在此标准，您可以下载或者购买，灰色表示平台不存在此标准；
箭头终点方向的标准引用了起点方向的标准。

标准号: GB/T 42838-2023
别名: GBT42838-2023
GB42838-2023
发布: 2023年
发布单位: 国家质检总局
当前最新: GB/T 42838-2023

GB/T 42838-2023相似标准

BS IEC 60747-14-2:2001 分立半导体器件和集成电路.半导体器件.半导体传感器.霍尔元件 BS IEC 60747-14-2:2000 分立半导体器件和集成电路.半导体器件.半导体传感器.霍尔元件 GJB 8118-2013 军用电子元器件分类与代码 GB/T 17573-1998 半导体器件分立器件和集成电路第1部分;总则 GB/T 40291-2021 核仪器仪表辐射探测器用高纯度锗晶体基本特性的测量方法

推荐

什么是探针台，探针台的分类有哪些？

　　探针台主要应用于半导体行业、光电行业、集成电路以及封装的测试。广泛应用于复杂、高速器件的精密电气测量的研发，旨在确保质量及可靠性，并缩减研发时间和器件制造工艺的成本。　　探针台分类　　探针台从操作上来区分有：手动，半自动，全自动　　从功能上来区分有：温控探针台，真空探针台（超低温探针台），RF探针台，LCD平板探针台，霍尔效应探针台，表面电阻率探针台...

半导体集成电路概述

　　半导体集成电路（英文名：semiconductor integrated circuit），是指在一个半导体衬底上至少有一个电路块的半导体集成电路装置。　　半导体集成电路是将晶体管，二极管等等有源元件和电阻器，电容器等无源元件，按照一定的电路互联，“集成”在一块半导体单晶片上，从而完成特定的电路或者系统功能。　　...

29个半导体国家标准即将实施，12月1日有12个国标开始实施！

2023/8/62023/12/15GB/T 42974-2023半导体集成电路 快闪存储器（FLASH）2023/9/72024/1/16GB/T 42839-2023半导体集成电路 模拟数字（AD）转换器2023/8/62023/12/17GB/T 42838-2023半导体集成电路 霍尔电路测试方法2023/8/62023/12/18GB/T 43061-2023半导体集成电路 PWM控制器测试方法...

集成电路IC卡高温测试

在集成电路行业大家想必都知道，集成电路IC卡在出厂之前是需要经过高低温测试的，来测试其在高低温环境下的性能，集成电路 IC卡在出厂之前，一定要进行环境测试，以此来对集成电路在不同工作环境下的性能进行模拟，集成电路高低温测试是依靠封装级和晶片级集成电路专用高低温测试机，来协助厂商完成高低温循环测试、冷热冲击测试、老化测试等测试。...

GB/T 42838-2023半导体集成电路 霍尔电路测试方法