ASTM E2859-11(2017)
使用原子力显微镜测量纳米粒子的标准指南
Standard Guide for Size Measurement of Nanoparticles Using Atomic Force Microscopy
- 标准号
- ASTM E2859-11(2017)
- 发布
- 2017年
- 发布单位
- 美国材料与试验协会
- 替代标准
- ASTM E2859-11(2023)
- 当前最新
- ASTM E2859-11(2023)
- 引用标准
- ASTM E1617 ASTM E2382 ASTM E2456 ASTM E2530 ASTM E2587
- 1.1 本文件的目的是为原子力显微镜 (AFM) 的定量应用提供指导，以使用高度（z 位移）测量来确定以干燥形式沉积在平坦基底上的纳米粒子2的尺寸。与提供样品的二维投影或二维图像的电子显微镜不同，AFM 提供三维表面轮廓。虽然横向尺寸受到探针形状的影响，但位移测量可以提供高精度的纳米颗粒高度。如果假设颗粒是球形的，则高度测量值对应于颗粒的直径。在本指南中，描...
ASTM E2859-11(2017)相似标准
推荐
原子力显微镜法测量纳米粒子的尺寸
原子力显微镜（Atomic Force Microscopy, AFM）是继扫描隧道显微镜（Scanning Tunneling Microscopy, STM）之后发明的一种具有原子级高分辨的新型仪器，可以在大气和液体环境下对各种材料和样品进行纳米区域的物理性质包括形貌进行探测。本标准文本将概述纳米粒子的原子力显微镜样品制备，以及纳米粒子尺寸的原子力显微镜法测量。...
XRD和TEM在样品物象上表征的区别
原子力显微镜测量粒子直径范围为1nm~8mm。 此外，透射电镜法与原子力显微镜法测定纳米粒子的粒径的准确性与纳米粒子的分散性，观察者本身的局限性有关。一些团聚体可能被误认为一次颗粒，影响了测量准确性。所以，透射电镜法和原子力显微镜法的粒径测量值有可能会大于实际粒径值。 X 射线衍射法、透射电子显微镜法、原子力显微镜法三种测量方法都有自身特点,没有一种方法是能够适用于所有情况的通用方法。...
XRD、TEM、AFM表征粒径的方式及异同
原子力显微镜测量粒子直径范围约为0.1nm~数十纳米。 此外，透射电镜法与原子力显微镜法测定纳米粒子的粒径的准确性与纳米粒子的分散性，观察者本身的局限性有关。一些团聚体可能被误认为一次颗粒，影响了测量准确性。所以，透射电镜法和原子力显微镜法的粒径测量值有可能会大于实际粒径值。...
超灵敏纳米探测装置能“听”到细胞跳动
而这一涂层是可以调整的：如果想要测量更大的力，可以使用更硬的涂层；如果要测量的力很小，则可以使用像水凝胶一样的较软涂层。 研究人员表示，作为一种超灵敏的纳米机械探测工具，新装置为研究一些微弱力提供了有力支持。它不仅能够收集微弱的力和声音，还可以对其进行量化；不仅比原子力显微镜更灵敏，也比原子力显微镜更小巧。...