找不到引用QB/T 1132-2005 首饰 银覆盖层厚度的规定 的标准
该两项测原子光谱测厚标准分别是《首饰 金覆盖层厚度的测定 光谱法》（QB/T 1133-2016）和《首饰 银覆盖层厚度的测定 光谱法》（QB/T 1134-2016），分别替代QB/T 1133-1991和QB/T 1134-1991。 ...
不仅可以测量平面试样的覆盖层厚度，还可以测量圆柱形和线材的覆盖层厚度，尤其适合测量多层镍镀层的金属及其电位差。测量镀层的种类为Au、Ag、Zn、Cu、Ni、dNi、Cr。 X-ray 方法： 适用于测定电镀及电子线路板等行业需要分析的金属覆盖层厚度。包括：金(Au)，银(Ag)，锡(Sn)，铜(Cu)，镍(Ni)，铬(Cr)等金属元素厚度。 ...
金属镀层测厚仪是专门针对镀层厚度测量而精心设计的一款新型仪器。主要应用于：金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定；黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测。 覆层厚度的测量方法主要有：楔切法，光截法，电解法，厚度差测量法，称重法，X射线荧光法，β射线反向散射法，电容法、磁性测量法及涡流测量法等。这些方法中前五种是有损检测，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。 ...
X-ray 方法：适用于测定电镀及电子线路板等行业需要分析的金属覆盖层厚度。 包括：金（Au），银（Ag），锡（Sn），铜（Cu），镍（Ni），铬（Cr）等金属元素厚度。本测量方法可同时测量三层覆盖层体系，或同时测量三层组分的厚度和成分。测试原理金相法：利用金相显微镜原理，对镀层厚度进行放大，以便准确的观测及测量。...
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