T/QGCML 1940-2023
扫描电子显微镜原位高温力学测试装置

Scanning electron microscope in-situ high temperature mechanical testing device


T/QGCML 1940-2023 中,可能用到以下仪器设备

 

扫描探针电化学工作站

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美国阿美特克中国

 

1296/1294材料阻抗测试系统

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1260-1287电化学交流阻抗系统

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大面积电制冷能谱仪

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牛津仪器(上海)有限公司

 

徕卡室温超薄切片机 Leica EM UC7

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徕卡显微系统(上海)贸易有限公司

 

日本电子JSM-6510系列扫描电子显微镜

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FEI Quanta x50 FEG场发射环境扫描电镜

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赛默飞电子显微镜(原FEI)

 

蔡司ULTRA 55扫描电子显微镜

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北京欧波同光学仪器有限公司/欧波同/OPTON

 

日本电子6700F高分辨扫描电子显微镜

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日本电子株式会社(JEOL)

 

JEM-2100F 场发射透射电子显微镜

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日本电子株式会社(JEOL)

 

PGSTAT 128N电化学工作站

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瑞士万通中国有限公司--实验室分析仪器

 

HF-3300场发射透射电子显微镜

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天美仪拓实验室设备(上海)有限公司

 

日立 IM4000PLUS离子研磨仪器

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天美仪拓实验室设备(上海)有限公司

 

蔡司Gemini Sigma 300/VP SEM超高分辨率场发射扫描电镜

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北京欧波同光学仪器有限公司/欧波同/OPTON

 

蔡司SIGMA 500/VP高分辨率场发射扫描电镜

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北京欧波同光学仪器有限公司/欧波同/OPTON

 

蔡司MultiSEM 505/MultiSEM 506扫描电子显微镜

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北京欧波同光学仪器有限公司/欧波同/OPTON

 

JEM-3200FS 场发射透射电子显微镜

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日本电子株式会社(JEOL)

 

日本电子JSM-7200F扫描电子显微镜

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日本电子株式会社(JEOL)

 

大气压扫描电镜

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日本电子株式会社(JEOL)

 

聚焦离子束系统

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北京欧波同光学仪器有限公司/欧波同/OPTON

 

ULTRA 结构分析用场发射扫描电子显微镜

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北京欧波同光学仪器有限公司/欧波同/OPTON

 

过程控制用微粒分析工具/扫描电镜SEM

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北京欧波同光学仪器有限公司/欧波同/OPTON

 

Quanta SEM

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冷场发射球差校正透射电镜

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软X射线分光谱仪

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STEM探测器

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蔡司ULTRA 55扫描电子显微镜

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VSP多通道恒电位仪

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是德Keysight 7500 ILM 扫描探针显微镜

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蔡司SIGMA 500/VP高分辨率场发射扫描电镜

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聚焦离子束系统

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ULTRA 结构分析用场发射扫描电子显微镜

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单克隆抗体系列

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金属丝拉伸强度试验机

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拉力机夹具

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管材耐压爆破试验机

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标准号
T/QGCML 1940-2023
发布
2023年
发布单位
中国团体标准
当前最新
T/QGCML 1940-2023
 
 
本文件规定了扫描电子显微镜原位高温力学测试装置的术语和定义、结构要求、技术要求、试验方法、检验规则、标志、包装运输和贮存、注意事项。 本文件适用于扫描电子显微镜原位高温力学测试装置的生产及检验。以下简称装置。

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