DB34/T 3368.4-2019
印制电路板中有害物质分析方法 第4部分:铅和镉的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法

Analytical methods of hazardous substances in printed circuit boards - Part 4: Determination of lead and cadmium by inductively coupled plasma atomic emission spectrometry


DB34/T 3368.4-2019 发布历史

DB34/T 3368.4-2019由安徽省标准 CN-DB34 发布于 2019-07-01,并于 2019-09-01 实施。

DB34/T 3368.4-2019 印制电路板中有害物质分析方法 第4部分:铅和镉的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法的最新版本是哪一版?

最新版本是 DB34/T 3368.4-2019

DB34/T 3368.4-2019的历代版本如下:

  • 2019年 DB34/T 3368.4-2019 印制电路板中有害物质分析方法 第4部分:铅和镉的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法

 

本部分规定了印制电路板中的铅和镉的电感耦合等离子发射光谱仪检测方法的方法原理、仪器、试 剂及材料、样品制备、分析步骤、结果计算、精密度和报告。 本部分适用于印制电路板中的铅和镉的含量的测定。 铅和镉的方法检出限为 0.0003%。

DB34/T 3368.4-2019

标准号
DB34/T 3368.4-2019
发布
2019年
发布单位
安徽省标准
当前最新
DB34/T 3368.4-2019
 
 

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