SAE J2052-2016
试验装置的总接触时间分析
Test Device Head Contact Duration Analysis
- 标准号
- SAE J2052-2016
- 发布
- 2016年
- 发布单位
- SAE - SAE International
- 当前最新
- SAE J2052-2016
- 适用范围
- 该方法可用于所有具有刚性安装到头部和头部三轴加速度计的上颈三轴称重传感器的测试设备的 HIC@ 计算。目的 本 SAE 信息报告的目的是描述一种适用于计算机的技术，用于确定头部接合和脱离时间，以便在不依赖接触开关或摄影的情况下计算 HIC。