■ ZFT 反射光谱膜厚分析技术，集成宽频反射光谱分析仪，可测量ULA+ 2et-20薄膜材料的厚度、折射率和反射率。单层流道深度测量（有盖板）层流道深度测量（有盖板）-流道底部有纹路微孔深度测量及多孔平整度测量（无盖板）本文作者胡树栋华东区销售经理薄膜测量行业从业十多年，对于薄膜量测的方案解决有着丰富的经验。让微流控芯片行业中需要量测流道形貌及深度这类原本比较棘手的问题得到了完美的解决。...
点击上方蓝字关注我们光学薄膜是现代光学技术中不可缺少的技术基础，随着薄膜技术和光电器件的广泛发展，对光学及电子元件表面光学薄膜的性能要求也不断提高，与之相对应的加工和检测技术也不断更新，精密测量对光学薄膜各种参数提出了更高的要求。光学薄膜具有改变介质的光学特性(如增透膜，高反膜等)，改进器件表面性能，扩展材料新的功能特性等优点。...
【参展范围】光学薄膜：增亮膜、扩散膜、反射膜、偏光膜、增亮复合膜、导光膜等背光、显示用光学膜、光学保护膜、硬化膜、防刮膜、防窥膜、防爆膜、防眩膜、ITO膜、OCA光学胶等触摸屏/显示屏用膜等；保护膜：PE、PET、OPP等制程类保护膜、防刮、防爆、防眩、防窥等功能类保护膜、光学级离型膜、离型纸、淋膜纸等辅助、基材等；功能性薄膜(产业用) ：BOPET、PET、CPP薄膜、离型基材膜、胶带基膜、IMD...
哑光表面可防止薄膜浸湿或光学耦合到液晶面板的后偏振片。3M™ DBEF-QV2 with OCA Film (117.4 microns)的 3M™ DBEF-QV2 此版本的 3M DBEF 在薄膜的一侧有 1 mil 厚的 3M 光学透明粘合剂。然后将其层压到液晶面板的后偏振片上。...
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