21/30412880 DC
BS ISO 23729 表面化学分析 原子力显微镜 有限探针尺寸扩张的原子力显微镜图像恢复程序指南
BS ISO 23729. Surface chemical analysis. Atomic force microscopy. Guideline for restoration procedure for atomic force microscopy images dilated by finite probe size
21/30412880 DC 中，可能用到以下仪器设备
- 标准号
- 21/30412880 DC
- 发布
- 2021年
- 发布单位
- 英国标准学会
- 当前最新
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新型AI技术打破原子力材料表面成像技术基本限制
伊利诺伊大学厄巴纳-香槟分校的研究人员推出了一种人工智能技术，通过使原子力显微镜（AFM）能够观察到比探针尖端更小的材料特征，从而大大提高了原子力显微镜（AFM）的性能。这一突破首次提供了超越传统分辨率限制的真正三维轮廓，有望彻底改变纳米电子开发和材料研究。原子力显微镜（AFM）是一种广泛使用的技术，可以定量绘制材料表面的三维图。然而，原子力显微镜的精度受到显微镜探针尺寸的限制。...
简述原子力显微镜的工作原理
原子力显微镜提供原子或近原子解析度的表面形貌图像，能够定量样品的表面粗糙度到＂Å＂等级。除了提供表面图像之外，AFM也可以提供形态的定量测量，如高度差和其他尺寸。可提供三维表面形态影像，包括表面粗糙度、粒径大小、高度差和间距，其他样品特性的成像，包括磁场、电容、摩擦力和相位。 ...
原子力显微镜成像要点
当样品的尺寸大小与探针的尖端曲率半径相当或更小时，会出现所谓的“加宽效应”，即测量值大于真实值，影响图像准确度。为克服“加宽效应”，一方面可发展制造尖端更细的探针，如用单壁碳纳米管制备的原子力显微镜探针进行生物或化学修饰也可提高图像质量。 ...
原子力显微镜常见问题？
微悬臂运动可用如隧道电流检测等电学方法或光束偏转法、干涉法等光学方法检测，当针尖与样品充分接近相互之间存在短程相互斥力时，检测该斥力可获得表面原子级分辨图像，一般情况下分辨率也在纳米级水平。原子力显微镜测量对样品无特殊要求，可测量固体表面、吸附体系等。原子力显微镜的常见问题 1、原子力显微镜探测到的原子力的由哪两种主要成分组成? ...