T/SZBSIA 007-2022
IC类半导体固晶机检测规范

Semiconductor die bonder test specification


T/SZBSIA 007-2022 中,可能用到以下仪器

 

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Metcal(OK)奥科STTC 烙铁头

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CAMTEK 自动光学检验 Eagle-AP(3D/2D)

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昊量光电半导体可饱和吸收体

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T/SZBSIA 007-2022

标准号
T/SZBSIA 007-2022
发布
2022年
发布单位
中国团体标准
当前最新
T/SZBSIA 007-2022
 
 
本文件规定了半导体固晶机的术语和定义、结构与基本参数、技术要求、试验方法、检验规则、使用说明书与标志、包装、运输和储存。  本文件适用于IC类半导体固晶机。

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T/SZBSIA 007-2022 中可能用到的仪器设备





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