T/CSTM 00750-2022
毫米波频段材料介电性能测试 开放式半球型谐振腔法
Measurement of dielectric properties of materials in millimeter wave frequency—Hemispherical type open resonator method
T/CSTM 00750-2022 发布历史
T/CSTM 00750-2022由中国团体标准 CN-TUANTI 发布于 2022-04-19，并于 2022-04-20 实施。
T/CSTM 00750-2022在国际标准分类中归属于: 31.020 电子元器件综合。
T/CSTM 00750-2022 毫米波频段材料介电性能测试 开放式半球型谐振腔法的最新版本是哪一版？
最新版本是 T/CSTM 00750-2022 。
T/CSTM 00750-2022的历代版本如下：
- 2022年 T/CSTM 00750-2022 毫米波频段材料介电性能测试 开放式半球型谐振腔法
本文件规定了使用开放式半球型谐振腔法测试频率在20GHz~60GHz范围内的无机材料、复合板材、工程塑料等材料的相对介电常数实部和损耗角正切值的测量方法。其中，相对介电常数实部的测量范围为2~30，损耗角正切值的测量范围为0.05~0.0001。 本文件适用于氧化硅、氧化铝、氮化铝、氧化锆、氮化硼等无机材料，聚四氟乙烯填充二氧化钛等有机/无机复合板材，聚醚醚酮、聚苯乙烯等有机工程塑料的相对介电常数实部和损耗角正切值的测量，也适用于其他类似固体电介质、复合板材、工程塑料材料及其薄膜的相对介电常数实部和损耗角正切值的测量。
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