IEC 60747-10:1991
半导体器件 第10部分:分立器件和集成电路总规范
Semiconductor devices; part 10: generic specification for discrete devices and integrated circuits
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- 标准号
- IEC 60747-10:1991
- 发布
- 1991年
- 中文版
- GB/T 4589.1-2006 (等同采用的中文版本)
- 发布单位
- 国际电工委员会
- 替代标准
- IEC 60747-10/AMD1:1995
- 当前最新
- IEC 60747-10:1991/AMD3:1996
- 被代替标准
- IEC 60747-10:1984
- 定义了 IECQ 体系中使用的质量评估的一般程序，并给出了以下一般规则： - 电气特性的测量方法； - 气候和机械测试； - 耐力测试。
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