VDI 3866 Blatt 5-2003
工业产品中石棉的测定扫描电子显微镜法

Determination of asbestos in technical products - Scanning electron microscopy method


VDI 3866 Blatt 5-2003 中，可能用到以下仪器设备

 

日本电子JSM-6510系列扫描电子显微镜

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日本电子株式会社(JEOL)

 

FEI Quanta x50 FEG场发射环境扫描电镜

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赛默飞电子显微镜（原FEI）

 

蔡司ULTRA 55扫描电子显微镜

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北京欧波同光学仪器有限公司/欧波同/OPTON

 

日本电子6700F高分辨扫描电子显微镜

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日本电子株式会社(JEOL)

 

蔡司Gemini Sigma 300/VP SEM超高分辨率场发射扫描电镜

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北京欧波同光学仪器有限公司/欧波同/OPTON

 

蔡司SIGMA 500/VP高分辨率场发射扫描电镜

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北京欧波同光学仪器有限公司/欧波同/OPTON

 

蔡司MultiSEM 505/MultiSEM 506扫描电子显微镜

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北京欧波同光学仪器有限公司/欧波同/OPTON

 

日本电子JASM-6200 ClairScope 大气压扫描电子显微镜

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日本电子株式会社(JEOL)

 

日本电子JCM-6000plus NeoScope 台式扫描电子显微镜

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日本电子株式会社(JEOL)

 

日本电子JSM-7200F扫描电子显微镜

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日本电子株式会社(JEOL)

 

大气压扫描电镜

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日本电子株式会社(JEOL)

 

聚焦离子束系统

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北京欧波同光学仪器有限公司/欧波同/OPTON

 

ULTRA 结构分析用场发射扫描电子显微镜

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北京欧波同光学仪器有限公司/欧波同/OPTON

 

过程控制用微粒分析工具/扫描电镜SEM

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北京欧波同光学仪器有限公司/欧波同/OPTON

 

Quanta SEM

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赛默飞电子显微镜（原FEI）

 

蔡司ULTRA 55扫描电子显微镜

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卡尔蔡司(上海)管理有限公司

 

蔡司Gemini Sigma 300/VP SEM超高分辨率场发射扫描电镜

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卡尔蔡司(上海)管理有限公司

 

蔡司SIGMA 500/VP高分辨率场发射扫描电镜

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卡尔蔡司(上海)管理有限公司

 

蔡司MultiSEM 505/MultiSEM 506扫描电子显微镜

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卡尔蔡司(上海)管理有限公司

 

聚焦离子束系统

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卡尔蔡司(上海)管理有限公司

 

ULTRA 结构分析用场发射扫描电子显微镜

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卡尔蔡司(上海)管理有限公司

 

过程控制用微粒分析工具/扫描电镜SEM

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卡尔蔡司(上海)管理有限公司

 

BCT-7800A PLUS挥发性有机物在线监测系统

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博赛德科技有限公司BCT

 

DT100便携式数字离子阱质谱仪

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广州禾信仪器股份有限公司

 

NMHC 2020 在线非甲烷总烃分析仪

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博赛德科技有限公司BCT

 

VOCs在线监测解决方案

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聚光科技(杭州)有限公司

 

Baseline 9000 MNME甲烷非甲烷分析仪

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VOCs排放甲烷/非甲烷及组分连续监测系统

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TESCAN泰思肯贸易（上海）有限公司

 

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泰思肯VEGA3 GMH/VEGA3 GMU扫描电镜

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TESCAN泰思肯贸易（上海）有限公司

 

超大样品室钨灯丝扫描电镜VEGA 3 XMU/XMH

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TESCAN泰思肯贸易（上海）有限公司

 

TESCAN MIRA3场发射扫描电镜（LMH/LMU）

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TESCAN泰思肯贸易（上海）有限公司

 

TESCAN RISE电镜拉曼一体化显微镜

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TESCAN S8000G 高分辨镓离子型双束扫描电镜

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TESCAN S8000 超高分辨场发射扫描电镜

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泰思肯微型扫描电子显微镜Small Base

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泰思肯集成矿物分析仪 TIMA-X（GM）

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TIMA-X(FEG GMU/GMH)大样品仓矿物分析仪系统

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GAIA3 model 2016超高分辨双束扫描电镜系统 (FIB-SEM)

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TESCAN泰思肯贸易（上海）有限公司

 

TESCAN 聚焦离子束扫描电镜 LYRA3(XM)

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TESCAN泰思肯贸易（上海）有限公司

 

TESCAN综合矿物分析仪 TIMA-X（LM）

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TESCAN泰思肯贸易（上海）有限公司

 

TESCAN MAIA3 model 2016 (XM)超高分辨场发射扫描电镜

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TESCAN泰思肯贸易（上海）有限公司

 

VDI 3866 Blatt 5-2003
标准号
VDI 3866 Blatt 5-2003
发布
2003年
发布单位
VDI - Verein Deutscher Ingenieure
替代标准
VDI 3866 Blatt 5-2004
当前最新
VDI 3866 Blatt 5-2017
VDI 3866 BLATT 5-2017
 
 

VDI 3866 Blatt 5-2003相似标准

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VDI 3866 Blatt 5-2003 中可能用到的仪器设备

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谁引用了VDI 3866 Blatt 5-2003 更多引用

VDI 3866 Blatt 4-2002 技术产品中石棉的测定相差光学显微法


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