ASTM E668-20
用于确定电子设备辐射硬度测试中吸收剂量的热释光剂量法（TLD）系统的标准实践

Standard Practice for Application of Thermoluminescence-Dosimetry (TLD) Systems for Determining Absorbed Dose in Radiation-Hardness Testing of Electronic Devices

ASTM E668-20 发布历史

ASTM E668-20由美国材料与试验协会 US-ASTM 发布于 2020-07-01。

ASTM E668-20在国际标准分类中归属于: 31.020 电子元器件综合。

ASTM E668-20 发布之时，引用了标准

• ASTM E170 有关辐射测量和剂量测定的标准术语
• ASTM E2450 混合中子光子环境中CaF＜inf＞2*， 2023-01-01 更新
• ASTM E380 公制实践标准
• ASTM E666 计算γ或X射线吸收剂量的标准实施规程

* 在 ASTM E668-20 发布之后有更新，请注意新发布标准的变化。

ASTM E668-20的历代版本如下：

• 2020年 ASTM E668-20 用于确定电子设备辐射硬度测试中吸收剂量的热释光剂量法（TLD）系统的标准实践
• 2013年 ASTM E668-13 测量电子器件辐射硬化试验中吸收剂量的热致发光剂量测量 (TLD) 系统应用的标准实施规程
• 2010年 ASTM E668-10 测定电子设备在辐射硬度试验中的吸收剂量用热致发光-剂量测定法(TLD)的标准应用规程
• 2005年 ASTM E668-05 电子器件辐射硬化试验中测量吸收剂量用的热致发光剂量测量(TLD)系统应用的标准实施规程
• 2000年 ASTM E668-00 运用热发光放射量测定系统(TLD)在电子设备放射危害性试验中测定吸收剂量的标准实施规范

1.1 本实践涵盖使用热释光剂量计（TLD）确定电离辐射照射材料吸收剂量的程序。尽管该程序的某些要素具有更广泛的应用，但值得关注的具体领域是电子设备的辐射硬度测试。本实践适用于伽马射线、X射线和能量为12至60 MeV的电子辐照材料吸收剂量的测量。具体的能量限制包含在描述程序的具体应用的适当部分中。所覆盖的吸收剂量范围约为 10−2 至 104 Gy（1 至 106 rad），吸收剂量率范围约为 10−2 至 1010 Gy/s（1 至 1012 rad/s）。本实践不包括经受中子辐照的材料的吸收剂量和吸收剂量率测量。 （有关混合领域的指导，请参阅实践 E2450。）此外，这些程序中涉及电子辐照的部分主要用于零件测试。作为更大型组件（例如电子板或盒子）的一部分的设备测试可能需要本实践范围之外的技术。注 1——电子辐照能量上限和下限的目的是为了达到简化剂量测定的极限情况。具体来说，指定的剂量测定方法要求达到以下三个限制条件：（a）一次电子的能量损失很小，（b）二次电子在剂量计内大部分停止，（c）一次电子产生的轫致辐射电子大量损失。

1.2 本标准并不旨在解决与其使用相关的所有安全问题（如果有）。本标准的使用者有责任建立适当的安全、健康和环境实践，并在使用前确定监管限制的适用性。

1.3 本国际标准是根据世界贸易组织贸易技术壁垒（TBT）委员会发布的《关于制定国际标准、指南和建议的原则的决定》中确立的国际公认的标准化原则制定的。

标准号

ASTM E668-20

发布

2020年

发布单位

美国材料与试验协会

当前最新

ASTM E668-20

 

 

引用标准

ASTM E170 ASTM E2450 ASTM E380 ASTM E666

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