KS C IEC 62276-2019
用于表面声波（锯）的单晶硅片器件应用 - 规格和测量方法

Single crystal wafers for surface acoustic wave(SAW) device applications — Specifications and measuring methods


KS C IEC 62276-2019 发布历史

KS C IEC 62276-2019由KR-KS 发布于 2019-11-15。

KS C IEC 62276-2019在国际标准分类中归属于: 31.140 频率控制和选择用压电器件与介质器件。

KS C IEC 62276-2019的历代版本如下：

  • 2019年 KS C IEC 62276:2019 用于表面声波（锯）的单晶硅片器件应用 - 规格和测量方法
  • 2007年 KS C IEC 62276:2007 表面声波装置用单晶薄片.规范和测量方法

 

标准号
KS C IEC 62276-2019
发布
2019年
发布单位
KR-KS
当前最新
KS C IEC 62276-2019
 
 

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