KS C IEC 60747-10-2004(2015)
半导体器件第10部分:分立器件和集成电路总规范

Semiconductor devices－Part 10：Generic specification for discrete devices and integrated circuits

 

 

非常抱歉，我们暂时无法提供预览，您可以试试： 免费下载 KS C IEC 60747-10-2004(2015) 前三页，或者稍后再访问。

如果您需要购买此标准的全文，请联系： 。

点击下载后，生成下载文件时间比较长，请耐心等待......

 

标准号
KS C IEC 60747-10-2004(2015)
发布
2004年
发布单位
KR-KS
 
 

KS C IEC 60747-10-2004(2015)相似标准

GB/T 4589.1-2006 半导体器件 第10部分:分立器件和集成电路总规范 IEC 60747-10:1991 半导体器件 第10部分:分立器件和集成电路总规范 KS C IEC 60747-10:2004 半导体器件.第10部分:分立器件和集成电路的总规范 TIS 2126-2002 半导体器件.第10部分:分立器件和集成电路的总规范 IEC 60747-10:1991/AMD3:1996 修改件3.半导体器件.第10部分:分立器件和集成电路总规范

推荐

史上最全可靠性试验标准，384项，不仅包括中国标准

第2部分: 可靠性和滥用试验.NF C96-022-30/A1-2011 半导体设备.机械和气候试验方法.第30部分:可靠性试验前对非密封表面安装器件的预处理NF C93-547-5-3-2010 液晶显示装置.第5-3部分:环境,耐久性和机械试验方法.玻璃强度和可靠性.NF C20-304-2006 可靠性试验.恒定失效率和恒定失效强度的符合性试验NF C96-022-30-2005 半导体器件....


Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证：京ICP证110310号