GSO ISO 17470:2015由GSO 发布于 2015-12-21。
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GSO ISO 17470:2015 微束分析 电子探针微量分析 使用波色散X射线光谱法进行定性点分析的指南的最新版本是哪一版?
最新版本是 GSO ISO 17470:2015 。
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X21-013-2012 微光束分析.电子探针微量分析(EPMA).应用波长色散光谱学进行元素映射分析方法 NF X21-009-2008 微光束分析.电子探针微量分析(EPMA).词汇 NF A92-801-4-2006 高级工业陶瓷.陶瓷涂层的试验方法.第4部分:使用电探针微量分析法(EPMA)测量化学成分 德国标准化学会,关于epma 制样的标准 DIN EN 1071-4-2006...
以聚焦的高速电子来激发出试样表面组成元素的特征X射线,对微区成分进行定性或定量分析的一种材料物理试验,又称电子探针X射线显微分析。电子探针分析的原理是:以动能为10~30千电子伏的细聚焦电子束轰击试样表面,击出表面组成元素的原子内层电子,使原子电离,此时外层电子迅速填补空位而释放能量,从而产生特征X射线。...
其方法是,先利用能发出荧光的材料(如ZrO2)置于电子束轰击下,这是就能观察到电子束轰击点的位置,通过样品移动装置把它调到光学显微镜目镜十字线交叉点上,这样就能保证电子束正好轰击在分析点上,同时也保证了分析点处于X射线分光谱仪的正确位置上。在电子探针上大多使用的光学显微镜是同轴反射式物镜,其优点是光学观察和X射线分析可同时进行。放大倍数为100-500倍。...
微区X射线荧光光谱分析(Micro-XRF)技术作为一种基于普通X射线荧光的无损分析技术,是X射线光谱学领域的重要分支,可实现微米级微小区域内样品中多元素定性或定量分析,成为获取样品微区结构元素空间线扫描、面扫描分布及时序性信息的有力工具。使用了台式能量色散X射线荧光仪,对氧化物组合标样和矿物光片点扫描,对31个矿物光片和涂有防晒霜的指纹样品进行面扫描,5个金属薄膜片点扫描。...
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