ASTM E1172-22由美国材料与试验协会 US-ASTM 发布于 2022-12-01。
ASTM E1172-22在国际标准分类中归属于: 17.180.30 光学测量仪器。
ASTM E1172-22 描述和规定波长色散X射线光谱仪的标准实施规程的最新版本是哪一版?
最新版本是 ASTM E1172-22 。
1.1 本实践涵盖了波长色散 X 射线光谱仪的操作和性能质量的基本组件。本实践的目的不是指定组件公差或性能标准,因为这些对于每个仪器来说都是唯一的。然而,实践确实试图确定哪些公差是关键的,从而应该指定哪些公差。
1.2 本标准并不旨在解决与其使用相关的所有安全问题(如果有)。本标准的使用者有责任建立适当的安全、健康和环境实践,并在使用前确定监管限制的适用性。具体的安全危险说明见第 7 节。
1.3 本国际标准是根据世界贸易组织发布的《关于制定国际标准、指南和建议的原则的决定》中确立的国际公认的标准化原则制定的 技术性贸易壁垒(TBT)委员会。
与只需激发源和探测器和相关电子与控制部件能量色散X射线荧光光谱仪相比,波长色散X射线荧光光谱仪的主要部件还包括分光晶体和测角仪,虽然灵敏度更高,但是结构更复杂,在测定时对精度的影响因素更多。 为保证检测结果的精度,波长色散型光谱仪的各个部件都需要符合要求正常运行。与仪器各种功能相关的误差都会改变检测结果的精度。...
X-射线荧光光谱仪(XRF)是一种较新型可以对多元素进行快速同时测定的仪器。在X射线激发下,被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线(即X-荧光)。波长和能量是从不同的角度来观察描述X射线所采用的两个物理量。 波长色散型X射线荧光光谱仪(WD-XRF),是用晶体分光而后由探测器接收经过衍射的特征X射线信号。...
波长和能量是从不同的角度来观察描述X射线所采用的两个物理量。波长色散型X射线荧光光谱仪(WD-XRF)。是用晶体分光而后由探测器接受经过衍射的特征X射线信号。如果分光晶体和控测器做同步运动,不断地改变衍射角,便可获得样品内各种元素所产生的特征X射线的波长及各个波长X射线的强度,可以据此进行特定分析和定量分析。...
分类:ROHS检测仪就是X射线荧光光谱仪, X射线荧光光谱仪通常可分为两大类,波长色散X射线荧光光谱仪和能量色散X射线荧光光谱仪应用:利用X射线检测ROHS标准规定中的元素的含量工作原理:1、波长色散X射线荧光光谱仪使用分析晶体分辨待测元素的分析谱线,根据Bragg定律,通过测定角度,即可获得待测元素的谱线波长:nλ=2dsinaθ (n=1,2,3…)式中 ,λ为分析谱线波长;d为晶体的晶格间距;...
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