60749-4 CORR 1-2003
Dispositifs A Semiconducteurs - Methodes D'essais Mecaniques et Climatiques - Partie 4: Essai Continu Fortement Accelere De Contrainte De Chaleur Humide (HAST) CORRIGENDUM 1 (Edition 1.0)

Semiconductor Devices - Mechanical and Climatic Test Methods - Part 4: Damp Heat@ Steady State@ Highly Accelerated Stress Test (HAST) CORRIGENDUM 1 (Edition 1.0)

60749-4 CORR 1-2003 发布历史

60749-4 CORR 1-2003由IEC - International Electrotechnical Commission 发布于 2003-08-01，并于 2017-03-08 实施。

60749-4 CORR 1-2003的历代版本如下：

• 2003年08月01日 60749-4 CORR 1-2003 Dispositifs A Semiconducteurs - Methodes D'essais Mecaniques et Climatiques - Partie 4: Essai Continu Fortement Accelere De Contrainte De Chaleur Humide (HAST) CORRIGENDUM 1 (Edition 1.0)

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标准号

60749-4 CORR 1-2003

发布日期

2003年08月01日

实施日期

2017年03月08日

废止日期

无

中国标准分类号

/

国际标准分类号

/

发布单位

IEC - International Electrotechnical Commission

引用标准

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