JS-002-2014
静电放电灵敏度测试 带电器件模型(CDM) 器件级

Electrostatic Discharge Sensitivity Testing - Charged Device Model (CDM) - Device Level


标准号
JS-002-2014
发布
2014年
发布单位
ESD - ESD ASSOCIATION
 
 
适用范围
该标准建立了根据器件和微电路暴露于定义的场感应带电器件模型 (CDM) 静电放电 (ESD) 时对损坏或退化的敏感性(敏感性)进行测试、评估和分类的程序。所有封装半导体器件@薄膜电路@表面声波(SAW)器件@光电器件@混合集成电路(HIC)@以及包含任何这些器件的多芯片模块(MCM)均应根据本标准进行评估。要执行测试@,必须将器件组装到与最终应用中预期的封装类似的封装中。本 CDM 文件不适用于插座放电模型测试仪。该测试方法结合了 JEDEC JESD22-C101 和 ANSI/ESD S5.3.1 的主要特性。引入了新的验证程序和测试条件定义来促进这种组合。目的 本标准的目的(目标)是建立一种测试方法,能够复制 CDM 故障并提供可靠的@可重复的 CDM ESD 测试结果,无论设备类型如何。可重复的数据将允许对 CDM ESD 敏感度级别进行准确的分类和比较。

JS-002-2014相似标准


推荐

精彩回顾丨赛默飞ESD产品测试技术研讨会圆满结束

随着半导体制程的逐渐高阶化,芯片封装形式的多样化、小型化,ESD(Electro-Static discharge)测试在实际应用场景中出现了诸如不同机台之间分析及对比的差异性、寄生电容对芯片器件测试结果影响、latchup闩锁效应测试中条件设定逐步复杂化、以及接触式CDM(Charged Device Model)测试方法的演变等等实际问题。...

静电放电及防护基础知识(二)

四、ESD的含义及三种型式ESD的含义ESD是代表英文ElectroStatic Discharge即"静电放电"的意思.ESD是本世纪中期以来形成的以研究静电的产生与衰减、静电放电模型静电放电效应如电流热(火花)效应(如静电引起的着火与爆炸)及和电磁效应(如电磁干扰)等的学科.近年来随着科学技术的飞速发展、微电子技术的广泛应用及电磁环境越来越复杂,对静电放电的电磁场效应如电磁干扰(EMI...

化学缺陷如何影响纳米多孔碳基超级电容器的充电

目前,还没有理论能够解决常用于电化学器件的无序多孔碳材料的纳米孔中限制离子的静电问题。我们提出了一种新的方法来描述亚纳米孔碳电极(Pikunic 2003)在超级电容环境中的充放电过程,我们称之为化学驱动电荷定位模型(CDCL)。...

干货 | 集成电路EOS/ESD,如何把控?

目前,广电计量在全国设有元器件筛选及失效分析实验室,构建了元器件国产化验证与竞品分析、集成电路测试与工艺评价、半导体功率器件质量提升工程、车规芯片与元器件AEC-Q认证等多个技术服务平台,满足装备制造、航空航天、汽车、轨道交通、5G通信、光电器件与传感器等领域企业,提升电子产品质量与可靠性的需求。文:陈琦、马云飞编辑:郑曼娜喜欢本文,记得点“赞”和“在看”支持一下!...





Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号