ASTM E1382-97(2023)
使用半自动和自动图像分析测定平均粒度的标准试验方法

Standard Test Methods for Determining Average Grain Size Using Semiautomatic and Automatic Image Analysis

标准号

ASTM E1382-97(2023)

发布

2023年

发布单位

美国材料与试验协会

当前最新

ASTM E1382-97(2023)

 

 

引用标准

ASTM E112 ASTM E1181 ASTM E1245 ASTM E3 ASTM E407 ASTM E562 ASTM E7 ASTM E883 ASTM E930

适用范围

1.1 这些测试方法用于通过测量晶粒截距长度、截距计数、交叉计数、晶界长度和晶粒面积来确定晶粒尺寸。
1.2 这些测量是通过半自动数字化平板电脑或使用显微镜产生的晶粒结构图像进行自动图像分析来进行的。
1.3 这些测试方法适用于任何类型的晶粒结构或晶粒尺寸分布，只要晶粒边界可以通过蚀刻和后续图像处理（如果需要）清晰地描绘出来。
1.4 这些测试方法适用于其他粒状微观结构的测量，例如细胞结构。
1.5 本标准仅涉及推荐的测试方法，其中的任何内容均不应被解释为定义或建立测试材料的可接受性或适用性的限制。
1.6 各节按以下顺序出现： 节 范围 1 参考文件 2 术语 3 定义 3.1 本标准特有术语的定义 3.2 符号 3.3 试验方法概要 4 意义和用途 5 干扰 6 设备 7 取样 8 测试样品 9 Specimen Preparation 10 Calibration 11 Procedure: Semiautomatic Digitizing Tablet 12 Intercept Lengths 12.3 Intercept and Intersection Counts 12.4 Grain Counts 12.5 Grain Areas 12.6 ALA Grain Size 12.6.1 Two-Phase Grain Structures 12.7 Procedure: Automatic Image Analysis 13 Grain Boundary Length 13.5 Intersection Counts 13.6平均弦（截距）长度/场 13.7.2 单个弦（截距）长度 13.7.4 晶粒计数 13.8 平均晶粒面积/场 13.9 单个晶粒面积 13.9.4 ALA 晶粒尺寸 13.9.8 两相晶粒结构 13.10 结果计算14 测试报告 15 精度和偏差 16 非等轴晶粒结构样品的晶粒尺寸 附件 A1 正确和不正确晶界划分的示例 附件 A2 1.7 本标准并不旨在解决与其使用相关的所有安全问题（如果有） 。本标准的使用者有责任建立适当的安全、健康和环境实践，并在使用前确定监管限制的适用性。 1 这些测试方法由 ASTM E04 金相委员会管辖，并由 E04.14 定量金相小组委员会直接负责。当前版本于 2023 年 4 月 1 日批准。2023 年 5 月发布。最初于 1991 年批准。上一版本于 2015 年批准为 E1382 – 97(2015)。 DOI：10.1520/E1382-97R23。版权所有 © ASTM International，100 Barr Harbor Drive，PO Box C700，West Conshohocken，PA 19428-2959。美国 本国际标准是根据世界贸易组织贸易技术壁垒（TBT）委员会发布的《关于制定国际标准、指南和建议的原则的决定》中确立的国际公认的标准化原则制定的。 1 1.8 本国际标准是根据世界贸易组织贸易技术壁垒（TBT）委员会发布的《关于制定国际标准、指南和建议的原则的决定》中确立的国际公认的标准化原则制定的。

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