通过电声方法测量 zeta电位执行ISO 13099-1标准《胶体系统 ——ζ电位测定方法 第1 部分:电声法和动电法;ISO 13099-3 胶体系统——ζ 电位测定方法 第 2部分:声学法》 在动态光散射 zeta 电位分析仪中只有经典理论。...
金属镀层厚度及各种固体材料膜层厚度的测定。研究晶体的生长过程、相变、缺陷、无机或有机固体材料的粒度观察和分析。进行材料表面微区成分的定性和定量分析,在材料表面做元素的面、线、点分布分析。...
目前,叶片涂层厚度主要由工艺保证,也有各类型的涂层厚度测量设备,包括日本 KETT、 德国尼克斯、北京时代创合科技等公司研制的各类电涡流测厚仪、磁感应测厚仪、荧光 X 射线测厚仪、超声波测厚仪等仪器,且各类设备配置了大量的标准片和基体。现阶段对于基体厚度的测量,主要利用长度计、电感测微仪等进行整体厚度测量,但缺少针对各类测厚仪和标准片的计量手段和校准标准,严重影响了叶片涂层参数的量值传递溯源。 ...
_第5部分:基于测量和有限元分析比较的泊松比制订2021/1/29195固定式压缩空气泡沫灭火设备制订2021/1/29196信息安全技术 反垃圾邮件产品技术要求和测试评价方法修订2021/1/29197光学功能薄膜 微结构厚度测试方法制订2021/1/29198制造服务通用要求 第3部分:资源管理制订2021/1/29199光路板 基本试验和测量程序 第2部分:光路板光学特性测量条件导则制订2021...
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