NF A91-114:1995
金属镀层.镀层厚度的测量.表面光度仪法

Metallic coatings. Measurement of coating thickness. Profilometric method.


NF A91-114:1995 中,可能用到以下仪器设备

 

安东帕CAT/CATi 涂层(镀层)膜厚测试仪

安东帕CAT/CATi 涂层(镀层)膜厚测试仪

安东帕(上海)商贸有限公司

 

安东帕CATc 紧凑型球磨测厚仪

安东帕CATc 紧凑型球磨测厚仪

安东帕(上海)商贸有限公司

 

FT160 XRF 镀层分析仪

FT160 XRF 镀层分析仪

日立分析仪器(上海)有限公司

 

标准号
NF A91-114:1995
发布
1995年
发布单位
法国标准化协会
当前最新
NF A91-114:1995
 
 

NF A91-114:1995相似标准


推荐

使用iEDX-150WT应对IPC4556化镍钯金镀层测试应用方案

在规范中,IPC详细描述每种类型金属镀层表面适合厚度,包括如何使用XRF分析准确测量厚度,且包含应满足XRF分析准确测量所需条件。二、化学镍/钯/浸金(ENEPIG)镀层要求      ENEPIG是沉积在以铜为基底金属一个三层表面处理。ENEPIG由镍作为基础层,再镀上一层钯层作为阻挡层,最外层沉积一层薄薄金层。...

镀层厚度测试检测方法

镀层是为了好看或储藏而涂在某些物品上金属表面涂上一层塑料,或者一层稀薄金属或为仿造某种贵重金属,在普通金属表面镀上这种贵重金属薄层。镀层厚度测试检测材料表面金属和氧化物覆层厚度测试。一般检测方法有:1、金相2、库仑3、X-ray 方法适用范围金相:采用金相显微镜检测横断面,以测量金属覆盖层、氧化膜层局部厚度方法。...

使用iEDX150WT应对IPC4552A化镍浸金镀层测试应用方案

在规范中,IPC详细描述每种类型金属镀层表面适合厚度,包括如何使用XRF分析准确测量厚度,且包含应满足XRF分析准确测量所需条件。二、镍/金(ENIG)镀层要求      ENIG是沉积在以铜为基底金属一个两层表面处理。ENIG由镍作为基础层,最外层沉积一层薄薄金层。...

使用iEDX150WT应对IPC4554浸锡镀层测试应用方案

每种镀层结构均具有其自身特殊性及工艺复杂性,表现在镀层稳定性,使用成本和寿命等各方面的优缺点。            IPC发布IPC-4554印制板浸锡规范(以下简称规范),旨在帮助印制板制造商在PCB生产过程中改进工艺环节,提升产品可靠性。在规范中,IPC详细描述每种类型金属镀层表面适合厚度,包括如何使用XRF分析准确测量厚度,且包含应满足XRF分析准确测量所需条件。...


NF A91-114:1995 中可能用到的仪器设备





Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号