ASTM D5723-95(2019)
通过X射线荧光测定金属基底上铬处理重量的标准实践
Standard Practice for Determination of Chromium Treatment Weight on Metal Substrates by X-Ray Fluorescence
ASTM D5723-95(2019) 发布历史
ASTM D5723-95(2019)由美国材料与试验协会 US-ASTM 发布于 2019-12-01。
ASTM D5723-95(2019)在国际标准分类中归属于: 71.040.50 物理化学分析方法。
ASTM D5723-95(2019)的历代版本如下：
- 2019年 ASTM D5723-95(2019) 通过X射线荧光测定金属基底上铬处理重量的标准实践
- 1995年 ASTM D5723-95(2015) 采用X射线荧光法测定金属基体上铬处理重量的标准实施规程
- 1995年 ASTM D5723-95(2010) X射线荧光法测定金属基体上铬处理重量标准实施规程
- 1995年 ASTM D5723-95(2002) 通过X射线荧光测定金属基底上铬处理重量的标准实践
- 1995年 ASTM D5723-95 X射线荧光法测定金属基体上铬处理重量标准规程
1.1 本实践涵盖使用 X 射线荧光 (XRF) 技术来确定金属基材上铬处理的涂层重量。这些技术适用于测定各种金属基材上的铬涂层重量或含铬处理的总涂层重量，或两者。
1.2 本标准并不旨在解决与其使用相关的所有安全问题（如果有）。本标准的使用者有责任建立适当的安全、健康和环境实践，并在使用前确定监管限制的适用性。
1.3 本国际标准是根据世界贸易组织贸易技术壁垒（TBT）委员会发布的《关于制定国际标准、指南和建议的原则的决定》中确立的国际公认的标准化原则制定的。
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