GA/T 1522-2018
法庭科学 射击残留物检验 扫描电子显微镜/X射线能谱法

Forensic Science Shooting Residue Inspection Scanning Electron Microscopy/X-Ray Spectroscopy

GAT1522-2018, GA1522-2018


GA/T 1522-2018 中,可能用到以下仪器设备

 

日本电子JSM-6510系列扫描电子显微镜

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日本电子株式会社(JEOL)

 

FEI Quanta x50 FEG场发射环境扫描电镜

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赛默飞电子显微镜(原FEI)

 

蔡司ULTRA 55扫描电子显微镜

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北京欧波同光学仪器有限公司/欧波同/OPTON

 

日本电子6700F高分辨扫描电子显微镜

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日本电子株式会社(JEOL)

 

蔡司Gemini Sigma 300/VP SEM超高分辨率场发射扫描电镜

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北京欧波同光学仪器有限公司/欧波同/OPTON

 

蔡司SIGMA 500/VP高分辨率场发射扫描电镜

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北京欧波同光学仪器有限公司/欧波同/OPTON

 

蔡司MultiSEM 505/MultiSEM 506扫描电子显微镜

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北京欧波同光学仪器有限公司/欧波同/OPTON

 

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日本电子株式会社(JEOL)

 

大气压扫描电镜

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日本电子株式会社(JEOL)

 

聚焦离子束系统

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北京欧波同光学仪器有限公司/欧波同/OPTON

 

ULTRA 结构分析用场发射扫描电子显微镜

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北京欧波同光学仪器有限公司/欧波同/OPTON

 

过程控制用微粒分析工具/扫描电镜SEM

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北京欧波同光学仪器有限公司/欧波同/OPTON

 

Quanta SEM

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赛默飞电子显微镜(原FEI)

 

蔡司ULTRA 55扫描电子显微镜

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卡尔蔡司(上海)管理有限公司

 

蔡司SIGMA 500/VP高分辨率场发射扫描电镜

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卡尔蔡司(上海)管理有限公司

 

蔡司MultiSEM 505/MultiSEM 506扫描电子显微镜

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卡尔蔡司(上海)管理有限公司

 

聚焦离子束系统

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卡尔蔡司(上海)管理有限公司

 

ULTRA 结构分析用场发射扫描电子显微镜

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卡尔蔡司(上海)管理有限公司

 

过程控制用微粒分析工具/扫描电镜SEM

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单克隆抗体系列

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金属丝拉伸强度试验机

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标准号
GA/T 1522-2018
别名
GAT1522-2018
GA1522-2018
发布
2018年
发布单位
行业标准-公共安全标准
当前最新
GA/T 1522-2018
 
 

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