T/CIE 116-2021
电子元器件故障树分析方法与程序
Electronic Components Fault Tree Analysis Method and Program
T/CIE 116-2021 发布历史
T/CIE 116-2021由中国团体标准 CN-TUANTI 发布于 2021-11-22，并于 2022-01-25 实施。
T/CIE 116-2021在国际标准分类中归属于: 31.080.01 半导体器分立件综合。
T/CIE 116-2021 电子元器件故障树分析方法与程序的最新版本是哪一版？
最新版本是 T/CIE 116-2021 。
T/CIE 116-2021的历代版本如下：
- 2021年 T/CIE 116-2021 电子元器件故障树分析方法与程序
本文件给出的基于失效物理的故障树构建方法及规范要求，解决了电子元器件故障树建树过程中故障事件演绎不充分、上下事件因果逻辑关系易混乱的问题，可以建立以故障树为载体且失效信息因果逻辑关系清晰的电子元器件故障信息库。本文件方法适用于产品尺寸小、内部结构性能难以直接测量的电子元器件产品。
