CSN ISO 3274-1994 用轮廓法测量表面厚度的仪器.轮廓顺序转换的接触(触针)式仪器.接触式轮廓仪,系统M
Instruments for the measurement of surface roughness by the profile method.Contact(stylus)instruments of consecutive profile transformation.Contact profile meters,system M
Zpracovatel: VELNOR, s. r. o., Brno, I?O: 44016174, Lubomír Vel?ovsk?, Ing. Eva Vele?íková Technická normaliza?ní komise: TNK 10 Metrologie geometrick?ch vlastností povrchu Pracovník ?eského normaliza?ního institutu: Ing. Miroslav Pospí?il