IEC 60749 AMD 1-1991
第1次修改

Semiconductor devices; mechanical and climatic test methods; amendment 1

IEC 60749 AMD 1-1991 发布历史

IEC 60749 AMD 1-1991由国际电工委员会 IX-IEC 发布于 1991-11。

IEC 60749 AMD 1-1991 在中国标准分类中归属于: K04 基础标准和通用方法。

IEC 60749 AMD 1-1991的历代版本如下：

• 1991-11  IEC 60749 AMD 1-1991 第1次修改
• 2000-07  IEC 60749 AMD 1-2000 半导体器件 机械和气候试验方法 修改1

IEC 60749 AMD 1-1991 于 1996-10 变更为 IEC 60749-1996 半导体器件 机械和气候试验方法。

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标准号

IEC 60749 AMD 1-1991

发布日期

1991-11

实施日期

废止日期

无

中国标准分类号

K04

国际标准分类号

2370

发布单位

IX-IEC

代替标准

IEC 60749-1996

被代替标准

IEC 685-2-3-83