Purpose of the tests is to check the internal materials, construction and workmanship for compliance with the requirements of the applicable specification. The tests will normally be used prior to capping or encapsulation on a 100 % inspection basis to d
IEC 60748-11-1-1992由国际电工委员会 IX-IEC 发布于 1992-04。
IEC 60748-11-1-1992 在中国标准分类中归属于: L56 半导体集成电路,在国际标准分类中归属于: 31.200 集成电路、微电子学。
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