IEC 60812:1985由国际电工委员会 IX-IEC 发布于 1985,并于 2006-01-30 实施。
IEC 60812:1985 在中国标准分类中归属于: L05 可靠性和可维护性,在国际标准分类中归属于: 21.020 机器、装置、设备的特性和设计。
IEC 60812:1985 系统可靠性分析技术 失效模式和效应分析(FMEA)程序的最新版本是哪一版?
最新版本是 IEC 60812:2018 。
该标准描述了失效模式和影响分析(FMEA)以及失效模式@影响和危害性分析(FMECA)@,并就如何应用它们来实现各种目标@提供了指导,如下所示:-通过提供执行所需的程序步骤分析;- 通过确定适当的术语@假设@关键性措施@故障模式;- 通过确定基本原则;- 通过提供必要形式的示例。针对 FMEA 提出的所有一般定性考虑因素将适用于 FMEAC@,因为其中一个是扩展另一个。
它把设计细分为一个个部件或者子部件,然后系统地分析出设计中可能导致压力校验仪产品失效或者产品不可靠的各种因素地可能性和影响度。 作为一种可靠性分析工具,FMEA具有很多优势,特别是它能够将风险和后果量化。将风险量化可以减少可能性分析的主观性。但FMEA也不是万能的。它最大的不足就是不能排除人为因素的错误,而很多事故都是由人为因素造成的。FMEA通常会忽略系统地联系和相互作用或者多元实效的影响。...
潜在的失效模式与后果分析(Potential Failure Mode and Effects Analysis)简称为FMEA,是一种定性的具有工程实用价值的可靠性分析方法。...
1950年,美国的GRUMMAN公司研发新型喷射战斗机时,为了评估飞机操作系统某一元件之失效分析采用了FEMA的解析方法;1957年,Boeing飞机公司与Martin公司正式将FMEA列入工程指导手册,同时期美国NASA与军方也开始应用FMEA技术;1993年,美国汽车工业为连贯设计、开发与制造的程序,整合各个汽车公司的FMEA应用程序,当时的三大汽车公司委托ASOC整合潜在失效模式与效果分析参考手册...
半导体元器件失效分析的目的是借助各种测试分析技术和分析程序确认电子元器件的失效现象,分辨其失效模式和失效机理,确认最终的失效原因,提出改进设计和制造工艺的建议,防止失效的重复出现,提高元器件可靠性。二、服务对象元器件生产商:深度介入产品设计、生产、可靠性试验、售后等阶段,为客户提供改进产品设计和工艺的理论依据。 ...
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