IEC 60749 AMD 2-1993
第2次修改

Semiconductor devices; mechanical and climatic test methods; amendment 2

IEC 60749 AMD 2-1993 发布历史

IEC 60749 AMD 2-1993由国际电工委员会 IX-IEC 发布于 1993-09。

IEC 60749 AMD 2-1993 在中国标准分类中归属于: L55 微电路综合。

IEC 60749 AMD 2-1993的历代版本如下：

• 1993-09  IEC 60749 AMD 2-1993 第2次修改
• 2001-10  IEC 60749 AMD 2-2001 半导体器件 机械和气候试验方法 修改2

IEC 60749 AMD 2-1993 于 1996-10 变更为 IEC 60749-1996 半导体器件 机械和气候试验方法。

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标准号

IEC 60749 AMD 2-1993

发布日期

1993-09

实施日期

废止日期

无

中国标准分类号

L55

发布单位

IX-IEC

代替标准

IEC 60749-1996