IEC 60749:1984
半导体器件.机械和气候试验方法

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods

作废

IEC 60749:1984 发布历史

IEC 60749:1984由国际电工委员会 IX-IEC 发布于 1984。

IEC 60749:1984 在中国标准分类中归属于: L40 半导体分立器件综合。

IEC 60749:1984 半导体器件.机械和气候试验方法的最新版本是哪一版？

最新版本是 IEC 60749:2002 。

IEC 60749:1984的历代版本如下：

• 2002年 IEC 60749:2002 半导体器件 机械和气候试验方法
• 1970年 IEC 60749:1996/AMD2:2001 修改件2 半导体器件 机械和气候测试方法
• 1970年 IEC 60749:1996/AMD1:2000 修改件1 半导体器件 机械和气候测试方法
• 1996年 IEC 60749:1996 半导体器件 机械和气候试验方法
• 1970年 IEC 60749:1984/AMD2:1993 修改件2 半导体器件 机械和气候测试方法
• 1970年 IEC 60749:1984/AMD1:1991 修改件1 半导体器件 机械和气候测试方法
• 1984年 IEC 60749:1984 半导体器件.机械和气候试验方法

标准号

IEC 60749:1984

发布

1984年

发布单位

国际电工委员会

替代标准

IEC 60749:1984/AMD1:1991

当前最新

IEC 60749:2002

 

 

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