BS QC 750114:1996
电子元件质量评估协调制度 半导体器件 离散设备 场效应晶体管 用于开关应用的外壳额定场效应晶体管的空白详细规范

Harmonized system of quality assessment for electronic components. Semiconductor devices. Discrete devices. Field-effect transistors. Blank detail specification for case-rated field-effect transistors for switching applications

标准号

BS QC 750114:1996

发布

1996年

发布单位

英国标准学会

当前最新

BS QC 750114:1996

 

 

被代替标准

86/26195 DC-1986

与 BS QC 700000:1991、BS QC 750100:1986 一起阅读

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