用于集成电路制造技术的检测图形单元规范 不是强制性中国国家标准,您可以免费下载预览页
在芯片制造完成后,经过检测,然后将硅片上的芯片一个个划下来,将性能满足要求的芯片封装在管壳上,即构成完整的集成电路。...
该设备主要用于已封装或未封装集成电路的开路/短路测试,I/V特性分析,静态电流测量,漏电检测;用于集成电路或系统电路的筛选和失效分析。新增设备的必要性: 失效分析用IV曲线追踪仪主要用于分析IC的所有电流电压曲线,用于鉴定其任意某一条曲线是否出现偏差,可以很大程度上弥补X光检测由于分辨率无法分析的部分芯片,且可以在封装领域及开封后两次验证IV曲线是否偏差的问题。...
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